解析做MTBF可靠性試驗(yàn)應(yīng)該了解那些知識(shí)？

可靠性試驗(yàn)主要的目的是對(duì)各類產(chǎn)品進(jìn)行各類環(huán)境應(yīng)力的篩選來激發(fā)產(chǎn)品的故障從而提供產(chǎn)品的可靠性水平。我們所說的可靠性試驗(yàn)，主要是指產(chǎn)品的可靠性壽命試驗(yàn)，可通過可靠性壽命試驗(yàn)了解產(chǎn)品的壽命特征和失效規(guī)律，并計(jì)算出產(chǎn)品的失效率和平均霧故障時(shí)間。

MTBF，即平均無故障工作時(shí)間，英文全稱是“Mean Time Between Failure”。是衡量一個(gè)產(chǎn)品的可靠性指標(biāo)。單位為“小時(shí)”。它反映了產(chǎn)品的時(shí)間質(zhì)量，是體現(xiàn)產(chǎn)品在規(guī)定時(shí)間內(nèi)保持功能的一種能力。具體來說，是指相鄰兩次故障之間的平均工作時(shí)間，也稱為平均故障間隔。
 

可靠性壽命試驗(yàn)通常選取的典型環(huán)境應(yīng)力有：高溫、低溫、高溫低溫交替、恒定濕熱、交變濕熱、振動(dòng)試驗(yàn)、環(huán)境溫度等。

一、做MTBF可靠性試驗(yàn)需要提供哪些資料：

1、產(chǎn)品的相關(guān)使用說明書

2、產(chǎn)品的電路板電子元器件清單

3、產(chǎn)品的工作狀態(tài)說明

4、可靠性試驗(yàn)大綱

5、可靠性指標(biāo)的考核要求和具體方法

6、可靠性試驗(yàn)大綱中明確具體要求的測(cè)試時(shí)間和允許的責(zé)任故障數(shù)。

二、可靠性試驗(yàn)采用哪些可靠性方案：

1、序貫試驗(yàn)方案

2、定時(shí)結(jié)尾試驗(yàn)方案

3、全數(shù)試驗(yàn)方案

三、可靠性試驗(yàn)的應(yīng)力選擇：

用的最多的是溫度應(yīng)力，其次是振動(dòng)應(yīng)力和電應(yīng)力綜合的情況。也有采用純電應(yīng)力進(jìn)行連續(xù)通電運(yùn)行試驗(yàn)的情況，但是這種情況用得較少。

四、可靠性試驗(yàn)樣品臺(tái)數(shù)的選擇：

對(duì)于可靠性鑒定試驗(yàn)最少的樣品為2臺(tái)，對(duì)于可靠性驗(yàn)收試驗(yàn)，每批次至少2臺(tái)，最多不超過20臺(tái)。

五、可靠性壽命試驗(yàn)MTBF的指標(biāo)是什么？

一般的技術(shù)要求或者招標(biāo)文件中會(huì)明確提出，例如要求MTBF≥5000小時(shí)等字樣。

六、可靠性試驗(yàn)MTBF壽命試驗(yàn)一般需要多久的測(cè)試周期？

這個(gè)根據(jù)選擇的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方案以及產(chǎn)品的臺(tái)數(shù)而定。大多數(shù)在100小時(shí)以上。

七、相關(guān)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：

可靠性試驗(yàn) 第 1 部分：試驗(yàn)條件和統(tǒng)計(jì)檢驗(yàn)原理 GB/T5080.1-2012，，IEC 60300-3-5:2001

可靠性試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)周期設(shè)計(jì) GB/T 5080.2-2012，IEC 60605-2:1994

設(shè)備可靠性試驗(yàn) 可靠性測(cè)定試驗(yàn)的點(diǎn)估計(jì)和區(qū)間估計(jì)方法 (指數(shù)分布) GB/T 5080.4-1985，IEC 60605-4:1978

設(shè)備可靠性試驗(yàn)成功率的驗(yàn)證試驗(yàn)方案 GB/T5080.5-1985 ，IEC 60605-5:1982

設(shè)備可靠性試驗(yàn) 恒定失效率假設(shè)的有效性檢驗(yàn) GB/T5080.6-1996 ，IEC 60605-6:1989

設(shè)備可靠性試驗(yàn) 恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均無故障時(shí)間的驗(yàn)證試驗(yàn)方案 GB/T 5080.7-1986，IEC60605-7:1978

軍用通信設(shè)備通用規(guī)范 GJB 367A－2001

軍用計(jì)算機(jī)通用規(guī)范 GJB 322A-1998

可靠性鑒定和驗(yàn)收試驗(yàn) GJB 899A-2009